LPT-10 Apparatu per a Misura di Pruprietà di Laser Semiconductor
Esperimenti
1. Misura a distribuzione di u campu luntanu di u fasciu è calculate i so anguli divergenti verticali è horizontali.
2. Misura e caratteristiche voltage-current.
3. Misura a relazione trà u putere otticu di output è u currente, è acquistà u so corrente di soglia.
4. Misura u rapportu trà a pruduzzioni di putenza otticu è currenti à differente temperature, è analizà e so caratteristiche temperature.
5. Misurà e caratteristiche di polarizazione di u fasciu di luce di output è calculate u so rapportu di polarizazione.
6. Esperimentu facultativu: verificate a lege di Malus.
Specificazioni
| Articulu | Specificazioni |
| Laser à semiconducteur | Potenza di uscita < 2 mW |
| Lunghezza d'onda centrale: 650 nm | |
| Fornitura di energia diLaser à semiconducteur | 0 ~ 4 VDC (regulable in continuu), risoluzione 0,01 V |
| Foto Detector | Rilevatore di silicone, apertura di entrata di luce 2 mm |
| Sensor d'angolo | Gamma di misurazione 0 - 180 °, risoluzione 0,1 ° |
| Polarizer | Apertura 20 mm, angolo di rotazione 0 - 360 °, risuluzione 1 ° |
| Screen Light | Dimensioni 150 mm × 100 mm |
| Voltimetru | Gamma di misurazione 0 – 20,00 V, risoluzione 0,01 V |
| Misuratore di putenza laser | 2 µW ~ 2 mW, 4 scales |
| Controller di temperatura | Gamma di cuntrollu: da a temperatura ambiente à 80 °C, risoluzione 0,1 °C |
Lista di parti
| Descrizzione | Qty |
| Valigia principale | 1 |
| Dispositiu di supportu laser è sensing angle | 1 set |
| Laser à semiconducteur | 1 |
| Slide rail | 1 |
| Slide | 3 |
| Polarizer | 2 |
| Pantalla bianca | 1 |
| Supportu di u screnu biancu | 1 |
| Rilevatore di foto | 1 |
| Cavu à 3 core | 3 |
| Cavu à 5 core | 1 |
| Filu di cunnessione rossu (2 cortu, 1 longu) | 3 |
| Filu di cunnessione neru (taglia media) | 1 |
| Filu di cunnessione neru (taglia grande, 1 corta, 1 longa) | 2 |
| Cordone d'alimentazione | 1 |
| Manuale d'istruzzioni | 1 |
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