Apparatu di Mappatura di Campu Elettricu LEEM-3

Descrizzione corta:

In a tecnulugia di l'ingegneria, hè spessu necessariu cunnosce a distribuzione di u campu elettricu di u sistema di l'elettrodi per studià a lege di u muvimentu di l'elettroni o di e particelle cariche in u campu elettricu. Per esempiu, per studià a focalizazione è a deflessione di u fasciu di l'elettroni in u tubu di l'osciloscopiu, hè necessariu cunnosce a distribuzione di u campu elettricu di l'elettrodu in u tubu di l'osciloscopiu. In u tubu elettronicu, avemu bisognu di studià l'influenza di l'introduzione di novi elettrodi nantu à u muvimentu di l'elettroni, è avemu ancu bisognu di cunnosce a distribuzione di u campu elettricu. In generale, per scopre a distribuzione di u campu elettricu, si pò aduprà u metudu analiticu è u metudu di l'esperimentu di simulazione. Ma solu in uni pochi di casi simplici si pò ottene a distribuzione di u campu elettricu per mezu di u metudu analiticu. Per u sistema di elettrodi generale o cumplessu, hè generalmente determinatu per mezu di l'esperimentu di simulazione. U svantaghju di u metudu di l'esperimentu di simulazione hè chì a precisione ùn hè micca alta, ma per u disignu generale di l'ingegneria, pò risponde à i requisiti.