LEEM-3 Apparecchiatura di mappatura di u campu elettricu

Breve descrizione:

In a tecnulugia di l'ingegneria, hè spessu necessariu di cunnosce a distribuzione di u campu elettricu di u sistema di l'elettrodu per studià a lege di u muvimentu di l'elettroni o di particelle caricate in u campu elettricu.Per esempiu, per studià a focalizazione è a deviazione di u fasciu d'elettroni in u tubu di l'oscilloscopiu, hè necessariu cunnosce a distribuzione di u campu elettricu di l'elettrodu in u tubu di l'oscilloscopiu.In u tubu di l'elettroni, avemu bisognu di studià l'influenza di l'intruduzioni di novi elettrodi nantu à u muvimentu di l'elettroni, è avemu ancu bisognu di cunnosce a distribuzione di u campu elettricu.In generale, per sapè a distribuzione di u campu elettricu, u metudu analiticu è u metudu di esperimentu di simulazione pò esse usatu.Ma solu in uni pochi di casi simplici, a distribuzione di u campu elettricu pò esse ottenuta da u metudu analiticu.Per u sistema di elettrodi generale o cumplessu, hè di solitu determinatu da l'esperimentu di simulazione.U svantaghju di u metudu di l'esperimentu di simulazione hè chì a precisione ùn hè micca alta, ma per u disignu generale di l'ingegneria pò risponde à i bisogni.